Thermal Conductivity
3ω(Three-Omega) 기반 측정을 통해 다양한 재료의 Thermal Conductivity를 빠르게 정량화합니다.
NANOTEST · 측정장비Three-Omega Characterization SystemThermal Conductivity와 Thermal Diffusivity를
TOCS
Thermal Conductivity와 Thermal Diffusivity를
빠르게 측정하는 Material Characterization System
NANOTEST TOCS는 다양한 소재의 Thermal Conductivity와 Thermal Diffusivity를 수 분 이내에 분석할 수 있는 Compact Benchtop Characterization System입니다. Bi-directional 3ω (Three-Omega) Method를 기반으로 액체, Gel, Paste, Soft Material 등 폭넓은 시료의 열적 특성을 평가할 수 있습니다.
3ω MethodThermal ConductivityThermal DiffusivityQuick MeasurementBenchtop SystemMaterial Screening
PRODUCT MEDIA
TOCS의 시스템 구성과 3ω Characterization Workflow를 확인하세요.
Compact Benchtop Hardware, Re-usable Test Chip, External Chip Stage와 All-in-One Software를 기반으로 시료 준비부터 측정·분석까지 하나의 Workflow로 구성됩니다.
ENGINEERING ISSUE소재의 열전도도만이 아니라
소재의 열전도도만이 아니라
열이 퍼지는 속도까지 함께 확인해야 합니다.
소재 개발과 품질평가에서는 Thermal Conductivity뿐 아니라 Thermal Diffusivity, Temperature Dependency와 공정에 따른 Property 변화까지 빠르게 비교해야 합니다. TOCS는 3ω Method를 이용해 다양한 점도와 형상의 시료를 빠르게 Characterization하여 반복 시험과 Screening에 필요한 데이터를 제공합니다.
KEY CAPABILITIES
Quick Measurement부터 Process·Aging Investigation까지 하나의 Material Characterization Workflow
Thermal Diffusivity
Bi-directional 3ω Model Fitting을 이용해 Thermal Conductivity와 함께 Thermal Diffusivity를 도출합니다.
Quick Material Screening
Quick Test Series와 Regular Quality Screening을 통해 연구개발과 품질평가에 필요한 재료 데이터를 신속하게 확보합니다.
Process & Aging Study
Temperature Dependency, Process-Structure-Property Correlation, In-situ Curing 및 Aging Investigation에 활용할 수 있습니다.
SOFTWARE SCREENSHOT
측정 신호와 Material Property를 하나의 Software에서 분석
TOCS Software에서 측정 조건과 Sensor Data를 확인하고, Frequency Response에 대한 Fitting 결과와 Thermal Conductivity, Thermal Diffusivity를 하나의 화면에서 비교할 수 있습니다.
3ω MEASUREMENT PRINCIPLE
Bi-directional 3ω Method로 Thermal Conductivity와 Diffusivity를 도출
Sensor/Heater 구조에 교류 전류를 인가하고 발생하는 Thermal Response를 주파수 영역에서 분석합니다. 측정 신호의 3ω Component를 Bi-directional Model에 Fitting하여 소재의 Thermal Conductivity와 Thermal Diffusivity를 계산합니다.
Sensor와 Heater가 집적된 3ω Test Chip
Frequency Response 기반 Material Property 분석
SAMPLE RANGE
고체부터 액체까지 폭넓은 소재 Characterization
Liquids, Suspensions, Gels, Pastes, Oils, Greases와 Soft Materials 등 다양한 시료에 적용할 수 있으며, Curing 및 Non-curing Material의 특성 변화도 평가할 수 있습니다.
01Liquids & Suspensions
02Gels · Pastes · Oils
03Filled Greases
04Pads & Soft Materials
05Low to High Viscosity Materials
06Polymers
07Thermal Interface Materials
08Gap Pads · Gap Filler
09Adhesive · Cured Material
10Mold Compound · Underfill
MEASUREMENT WORKFLOW
Sample Preparation → Chip Stage → Frequency Sweep → Model Fitting → Property Extraction
Sample Preparation
액체·Gel·Paste·Soft Solid 등 시험 소재 준비
Chip Stage Setup
3ω Test Chip 또는 호환 Measurement Structure에 시료 적용
Frequency Sweep
설정된 Excitation Frequency 범위에서 측정 수행
Model Fitting
Bi-directional 3ω Model로 측정 신호 분석
Property Extraction
Thermal Conductivity와 Thermal Diffusivity 산출
TOCS TECHNICAL SPECIFICATION
3ω Method 기반의 빠른 Thermal Material Characterization
TOCS는 Compact Benchtop System에서 폭넓은 Excitation Frequency와 Sample Temperature 조건을 지원하며, Thermal Conductivity와 Thermal Diffusivity를 정량적으로 평가할 수 있습니다.
Bi-directional Three-Omega
W/(m·K)
Round Sample
Temperature Dependency
제조사 Datasheet 기준
Compact Benchtop
System & Measurement
| System | |||
|---|---|---|---|
| System type | Benchtop material characterization system | ||
| Footprint (w × d) | 54 × 40 | cm² | |
| Height | 17 | cm | |
| Weight | 12 | kg | |
| Power supply | 230 / 50 / 100 | VAC / Hz / W | |
| Measurement | |||
| Methodology | Bi-directional 3ω (Three-Omega) Method | ||
| Output | Thermal Conductivity Thermal Diffusivity | W/(m·K) m²/s | |
Measurement Conditions & Sample Properties
| Measurement Conditions | |||
|---|---|---|---|
| min | max | ||
| Excitation Frequency · Single Channel | 10 | 40,000 | Hz |
| Excitation Frequency · Triple Channel | 10 | 12,000 | Hz |
| Sample Temperature · Temperature Chamber | -10 | 80 | °C |
| Sample Temperature · Heating by Chip | max. 120 | °C | |
| Heating Rate | 20 | K/min | |
| Sample Properties | |||
| Sample Size · Round Diameter | 1 | 8 | mm |
| Sample Thickness | 0.1 | mm | |
| Thermal Conductivity | 0.05 | 50 | W/(m·K) |
| Thermal Diffusivity | 0.1 | 100,000 | 10⁻⁹ m²/s |
Measurement Accuracy & Precision
| Measurement Accuracy | |||
|---|---|---|---|
| Thermal Conductivity | ± 5 | % | |
| Thermal Diffusivity | ± 10 | % | |
| Measurement Precision | |||
| Thermal Conductivity | ± 3 | % | |
| Thermal Diffusivity | ± 5 | % | |
※ 사양은 NANOTEST TOCS Datasheet Rev.5 기준입니다. 실제 공급 구성과 Option은 프로젝트 조건에 따라 달라질 수 있습니다.
NANOTEST 공식 TOCS Datasheet
TOCS · Official Datasheet
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TOCS APPLICATION SUPPORT
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